介質(zhì)損耗定義:電介質(zhì)在單位時間內(nèi)消耗的能量稱為電介質(zhì)損耗功率,簡稱電介質(zhì)損耗。或者是:電場作用下的能量損耗,由電能轉(zhuǎn)變?yōu)槠渌问降哪埽鐭崮堋⒐饽艿龋y(tǒng)稱為介質(zhì)損耗。它是導(dǎo)致電介質(zhì)發(fā)生熱擊穿的根源。
電壓作用下,電介質(zhì)中產(chǎn)生的一切損耗稱為介質(zhì)損耗。如果介質(zhì)損耗過大,會使電介質(zhì)溫度升高,從而材料發(fā)生老化,且介質(zhì)溫度不斷上升的情況下,甚至?xí)央娊橘|(zhì)融化、燒焦,甚至喪失絕緣能力,導(dǎo)致熱擊穿。電介質(zhì)損耗的大小,是衡量絕緣介質(zhì)電性能的一項重要指標(biāo),本儀器為電氣設(shè)備的安全使用提供了保障。
介電損耗測試儀采用變頻電源技術(shù),利用單片機(jī)和現(xiàn)代化電子技術(shù)進(jìn)行自動頻率變換、模/數(shù)轉(zhuǎn)換和數(shù)據(jù)運算;達(dá)到抗干擾能力強(qiáng)、測試速度快、精度高、全自動數(shù)字化、操作簡便;廣泛適用于電力行業(yè)中變壓器、互感器、套管、電容器、避雷器等設(shè)備及相關(guān)絕緣材料的介損和介電常數(shù)的測量。
介電損耗測試儀測量線路包括標(biāo)準(zhǔn)回路和被試回路。標(biāo)準(zhǔn)回路由內(nèi)置高穩(wěn)定度標(biāo)準(zhǔn)電容器與測量線路組成,被試回路由被試品和測量線路組成。測量線路由取樣電阻與前置放大器和A/D轉(zhuǎn)換器組成。通過測量電路分別測得標(biāo)準(zhǔn)回路電流與被試回路電流幅值及其相位等,再由單片機(jī)運用數(shù)字化實時采集方法,通過矢量運算便可得出試品的電容值和介質(zhì)損耗正切值。儀器內(nèi)部已經(jīng)采用了抗干擾措施,保證在外電場干擾下準(zhǔn)確測量。